Klassifizierung

Das Transmissions-Elektronenmikroskop (Abkürzung TEM) beziehungsweise Durchstrahlungs-Elektronenmikroskop gleicht in seinem Aufbau dem Lichtmikroskop. Zur Abbildung werden Elektronen verwendet, die aus einer geheizten Wolframhaarnadelkathode austreten und im Hochvakuum durch eine Anodenspannung zwischen 50 kV und 3 MV auf einheitliche Geschwindigkeit beschleunigt werden. Nach Bündelung durch die elektrische oder magnetische Elektronenkondensorlinse durchstrahlen sie das höchstens etwa 10⁻³ mm dicke Präparat (Objekt). Dort werden sie je nach Dicke und Dichte der durchstrahlten Präparatzonen